Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
According to the transient characteristic and tabulated values of thermal resistances for high-frequency impulse voltage converters LM 2676, a thermoelectric model was obtained in the form of a Foster circuit, in which the electrical transient process coincides numerically with the transient thermal characteristic. With the help of the obtained thermoelectric model, the process of temperature change with a short-term increase in load and power loss is investigated.

Ключевые слова:
thermal resistance, thermoelectric model, Foster circuit
Текст
Текст произведения (PDF): Читать Скачать
Список литературы

1. Нисс, В.С. Оценка тепловых параметров мощных биполярных транзисторов методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии/ В.С. Нисс, О.С. Васьков, А.С. Турцевич, А.Ф. Керенцев, В.К. Кононенко //Приборы и методы измерений. - 2015. - Т. 6. - № 2. - С. 249-256.

2. Смирнов, В.И. Метод измерения компонент теплового сопротивления полупроводниковых приборов и его практическая реализация [и др.] /В.И. Смирнов, А.А. Гавриков, А.М. Шорин // Автоматизация процессов управления. - 2017. - № 2.

3. Гавриков, А.А. Измеритель теплового импеданса полупроводниковых диодов с широтно-импульсной модуляцией греющей мощности / В.А. Сергеев, В.И. Смирнов, А.А. Гавриков, М. Л. Конторович // Промышленные АСУ и контроллеры. - 2010. - №3. - С.45-47.

4. JEDEC JESD51-14 standard. Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction to Case of Semiconductor Devices with Heat Flow through a Single Path.

5. T3Ster - Thermal Transient Tester. - URL:https://www.mentor.com/micred/t3ster.

Войти или Создать
* Забыли пароль?